-
NI推薦選擇硬件在環(huán)（HIL）測(cè)試系統(tǒng)I/O接口
高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)（HIL）測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)和用于實(shí)現(xiàn)的實(shí)時(shí)處理技術(shù)。本教程討論了多種I/O接口選項(xiàng)，能夠用于實(shí)時(shí)處理器創(chuàng)建您的硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)。
2012-10-31
NI 硬件 測(cè)試
-
電子負(fù)載應(yīng)用于檢測(cè)設(shè)備測(cè)試中
隨著電子市場(chǎng)的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測(cè)量?jī)x表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動(dòng)、電源模塊測(cè)試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負(fù)載而言，其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少的測(cè)試設(shè)備。
2012-10-31
電子負(fù)載 檢測(cè)設(shè)備 測(cè)試
-
如何測(cè)試小型存儲(chǔ)器陣列
隨著半導(dǎo)體工藝不斷地進(jìn)步，那些原本存在芯片中的大型存儲(chǔ)器會(huì)轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個(gè)小型的存儲(chǔ)器陣列，并且散布在芯片中各個(gè)角落。針對(duì)這種類(lèi)型的小型陣列，如果想要偵測(cè)出與速度相關(guān)的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實(shí)并不是一件容易的事。
2012-10-31
測(cè)試 小型 存儲(chǔ)器陣列
-
相互調(diào)變失真的測(cè)量方法
在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調(diào)變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒(méi)有主動(dòng)組件存在，因此它的相互調(diào)變失真特性被稱(chēng)為“被動(dòng)的相互調(diào)變失真(passive IMD;PIMD)”。當(dāng)設(shè)計(jì)一個(gè)無(wú)線通信電路時(shí)，PIMD在每一個(gè)功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會(huì)先測(cè)量PIMD。
2012-10-31
相互調(diào)變失真 測(cè)量方法
-
是什么影響電阻和電阻率測(cè)試
影響電阻或電阻率測(cè)試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測(cè)試電壓、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)備的泄漏以及外界干擾等。本文重點(diǎn)談?wù)勆鲜鑫宕笠蛩亍?/p>
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測(cè)試 主要因素
-
VIO的開(kāi)環(huán)測(cè)試電路
輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(DUT，Device Under Test)－輔助運(yùn)放”的測(cè)試模式。
2012-10-31
VIO 開(kāi)環(huán)測(cè)試電路
-
COG取代LCD，可減少醫(yī)療系統(tǒng)設(shè)計(jì)成本
液晶顯示器(LCD)在診斷型醫(yī)療中的應(yīng)用日益頻繁，盡管LCD監(jiān)視器與陰極射線管監(jiān)視器相比具有很多優(yōu)勢(shì)，但是(COG)技術(shù)是LCD設(shè)計(jì)的替代方法，在該技術(shù)中LCD驅(qū)動(dòng)器直接安裝在顯示玻璃上，可為醫(yī)療應(yīng)用提供成本和設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)。
2012-10-31
COG LCD 醫(yī)療
-
眾多專(zhuān)家會(huì)診新一代電子產(chǎn)品的雷電浪涌保護(hù)難題
新一代電子產(chǎn)品都在向小型化、集成化發(fā)展，自然成本也高，對(duì)于電子產(chǎn)品的保護(hù)就顯得尤為重要，如果你想獲得最前沿、最有效的雷電浪涌防護(hù)方案，不妨看看來(lái)自Bourns、AEM、歐神防雷、君耀電子、檳城電子以及深波電子的專(zhuān)家在第十三屆電路保護(hù)與電磁兼容技術(shù)研討會(huì)上講解了哪些解決方案與設(shè)計(jì)訣竅。
2012-10-31
電路保護(hù) 電磁兼容 雷電浪涌
-
CMOS圖像傳感器飛速提升監(jiān)控畫(huà)質(zhì)
在目前的監(jiān)控用高清攝像機(jī)產(chǎn)品中，以130萬(wàn)和200萬(wàn)像素為主，且200萬(wàn)及以下像素的產(chǎn)品在傳感器方面以CCD、CMOS平分秋色，200萬(wàn)像素以上的產(chǎn)品則主要以CMOS為主，但總體而言，高清攝像機(jī)在低照度、寬動(dòng)態(tài)方面的表現(xiàn)仍有待提高。
2012-10-31
CMOS 圖像傳感器 監(jiān)控
- 帶寬可調(diào)+毫米波集成：緊湊型濾波器技術(shù)全景解析
- 電感傳感破局線控技術(shù)系統(tǒng)！汽車(chē)機(jī)械架構(gòu)的數(shù)字化革命
- 西南科技盛宴啟幕！第十三屆西部電博會(huì)7月9日蓉城集結(jié)
- 硬件加速+安全加密：三合一MCU如何簡(jiǎn)化電機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 智能家電的“動(dòng)力心臟”：專(zhuān)用電機(jī)控制MCU技術(shù)全景解析
- 溫漂±5ppm的硬核科技：車(chē)規(guī)薄膜電阻在衛(wèi)星與6G中的關(guān)鍵作用
- 從誤報(bào)到精準(zhǔn)預(yù)警：多光譜MCU重構(gòu)煙霧探測(cè)邊界
- 電感傳感破局線控技術(shù)系統(tǒng)！汽車(chē)機(jī)械架構(gòu)的數(shù)字化革命
- 西南科技盛宴啟幕！第十三屆西部電博會(huì)7月9日蓉城集結(jié)
- 功率電感器核心技術(shù)解析：原理、選型策略與全球品牌競(jìng)爭(zhēng)力圖譜
- 芯片級(jí)安全守護(hù)！800V電池管理中樞如何突破高壓快充瓶頸
- 帶寬可調(diào)+毫米波集成：緊湊型濾波器技術(shù)全景解析
- 車(chē)規(guī)與基于V2X的車(chē)輛協(xié)同主動(dòng)避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車(chē)安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車(chē)模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車(chē)用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
