儀器提供簡(jiǎn)單的射頻無(wú)源器件測(cè)試的最佳性能和功能,包括手機(jī)/基站天線、射頻電纜和濾波器。儀器還可以在研發(fā)過(guò)程中用于評(píng)測(cè)射頻無(wú)源器件和介電材料。
Agilent E5063A 提供最佳的性價(jià)比。它具備一流的射頻性能,包括 0.002 dBrms 跡線噪聲和 0.01 dB/℃ 穩(wěn)定度。這樣在縮減測(cè)試成本的同時(shí)保證質(zhì)量不會(huì)降低。工程師結(jié)合使用 E5063A 和 U1810B USB 射頻開(kāi)關(guān),可以構(gòu)建一款經(jīng)濟(jì)型的多端口測(cè)試解決方,使用單臺(tái)儀器測(cè)試四根天線,從而進(jìn)一步縮減測(cè)試成本。
借助業(yè)經(jīng)驗(yàn)證的校準(zhǔn)和數(shù)據(jù)分析功能(包括夾具仿真器功能),E5063A 提供與工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) Agilent E5071C ENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀相一致的測(cè)量結(jié)果。E5063A 和 85070E介電材料探頭套件組合是用于介電材料表征的理想且經(jīng)濟(jì)的解決方案,非常適合預(yù)算緊張的材料研究員使用。
安捷倫副總裁兼元器件測(cè)試事業(yè)部總經(jīng)理 Akira Nukiyama 說(shuō):“新型 Agilent E5063A ENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠降低制造和研發(fā)環(huán)境的總體測(cè)試成本。這款經(jīng)過(guò)優(yōu)化的解決方案不會(huì)犧牲性能或質(zhì)量。”
其它信息
Agilent E5063A ENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要選件如下:
E5063A-245 2 端口測(cè)試儀,100 kHz 至 4.5 GHz
E5063A-285 2 端口測(cè)試儀,100 kHz 至 8.5 GHz
E5063A-2H5 2 端口測(cè)試儀,100 kHz 至 18 GHz