LED芯片,熒光膠,熒光粉的測(cè)試方法匯總
發(fā)布時(shí)間:2014-06-26 責(zé)任編輯:echotang
【導(dǎo)讀】LED市場(chǎng)逐漸走向正軌,輔料市場(chǎng)似乎還沒(méi)有跟上腳步,使得LED封裝工程師困惑頭疼,小編盤點(diǎn)幾種測(cè)試熒光膠,熒光粉,芯片的快速簡(jiǎn)單的方法供工程師們參考。
1. 如何測(cè)試芯片的穩(wěn)定性
采用不同芯片廠家的芯片用同一家同一批次的硅膠,同一家同一批次的熒光粉,用同樣的制程工藝來(lái)封裝完后,測(cè)試起始光通量。然后用700mA電流去老化96小時(shí),192小時(shí)后,得到的光通量,和色坐標(biāo)的漂移性。最后測(cè)試出來(lái)的參數(shù)可以很快判定,芯片廠家的質(zhì)量。
2. 如何測(cè)試熒光膠
方法與上面一樣,用同一家同一批次的芯片,同一家同一批次的熒光粉,再用兩家不同的熒光膠。采用同樣的制程工藝來(lái)封裝完后,測(cè)試起始光通量。然后用700mA電流去老化96小時(shí),192小時(shí)后,得到的光通量,和色坐標(biāo)的漂移性。最后測(cè)試出來(lái)的參數(shù)可以很快判定,不同熒光膠廠家的質(zhì)量。
3. 如何測(cè)試熒光粉
方法與上面一樣,用同一家同一批次的芯片,同一家同一批次的熒光膠,再用兩家不同的熒光粉。采用同樣的制程工藝來(lái)封裝完后,測(cè)試起始光通量。然后用700mA電流去老化96小時(shí),192小時(shí)后,得到的光通量,和色坐標(biāo)的漂移性。最后測(cè)試出來(lái)的參數(shù)可以很快判定,不同熒光粉廠家的質(zhì)量。
了解了LED芯片、熒光膠、熒光粉的測(cè)試方法以后,相信工程師們?cè)谶x料過(guò)程中會(huì)多一些經(jīng)驗(yàn),但是以上是針對(duì)大功率產(chǎn)品測(cè)試方法,小功率的可以參考借鑒。
特別推薦
- 數(shù)字儀表與模擬儀表:它們有何區(qū)別?
- 基于APM32F411的移動(dòng)電源控制板應(yīng)用方案
- 基于GD32F407VET6主控芯片的永磁同步電機(jī)控制器設(shè)計(jì)
- 光迅科技發(fā)布O波DWDM光模塊
- 長(zhǎng)光辰芯發(fā)布16MP全局快門CMOS圖像傳感器
- Murata推出更適合薄型設(shè)計(jì)應(yīng)用場(chǎng)景的3.3V輸入、12A輸出的DCDC轉(zhuǎn)換IC
- 合熠智能推出超小型激光光電傳感器,堅(jiān)固耐用,精準(zhǔn)檢測(cè)
技術(shù)文章更多>>
- 【測(cè)試案例分享】 如何評(píng)估熱載流子引導(dǎo)的MOSFET衰退
- 深入探討適用于低功耗工業(yè)電機(jī)控制的CANopen協(xié)議
- DigiKey與 Lippincott 合作品牌煥新項(xiàng)目榮獲2025年度 Graphis 設(shè)計(jì)大賽金獎(jiǎng)
- 貿(mào)澤電子、Silicon Labs和Arduino聯(lián)手贊助2024 Matter挑戰(zhàn)賽比賽現(xiàn)已開(kāi)放報(bào)名
- 貿(mào)澤與Qorvo攜手推出全新電子書探索智能家居的聯(lián)網(wǎng)需求和所需的技術(shù)
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動(dòng)避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索
Cirrus Logic
CNR
CPU
CPU使用率高
Cree
DC/AC電源模塊
dc/dc
DC/DC電源模塊
DDR2
DDR3
DIY
DRAM
DSP
DSP
D-SUB連接器
DVI連接器
EEPROM
Element14
EMC
EMI
EMI濾波器
Energy Micro
EPB
ept
ESC
ESD
ESD保護(hù)
ESD保護(hù)器件
ESD器件
Eurotect