有幾種方法可以確保收到正確數(shù)據(jù)后才執(zhí)行動(dòng)作。最簡(jiǎn)單的方 式就是控制器回讀所發(fā)送的數(shù)據(jù)。如果接收的數(shù)據(jù)與發(fā)送的數(shù) 據(jù)不匹配，則說(shuō)明其中一者已受到破壞，必須發(fā)送新數(shù)據(jù)并進(jìn) 行驗(yàn)證。這種方法的確可靠，但產(chǎn)生的開銷也很大，每段數(shù)據(jù) 都必須經(jīng)過(guò)驗(yàn)證，傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量要翻一倍。

 

另一種替代方法是循環(huán)冗余校驗(yàn)（CRC），即隨每個(gè)數(shù)據(jù)包發(fā) 送一個(gè)校驗(yàn)和（checksum），接收器就會(huì)指示是否存在問(wèn)題， 所以控制器無(wú)需驗(yàn)證接收。校驗(yàn)和一般通過(guò)向數(shù)據(jù)應(yīng)用一個(gè)多 項(xiàng)式方程式來(lái)生成。應(yīng)用于一個(gè)24 位字時(shí)，CRC-8 可產(chǎn)生一 個(gè)8 位校驗(yàn)和。將校驗(yàn)和與數(shù)據(jù)組合在一起，全部32 位都發(fā) 送到能夠分析該組合的器件，并指示是否出錯(cuò)——這種方法雖 然不是無(wú)可挑剔解決方案，但卻比讀寫方法更加高效。

 

ADI 公司的眾多DAC 都采用了分組差錯(cuò)校驗(yàn)（PEC）的形式 來(lái)實(shí)現(xiàn)CRC。不需要PEC 功能時(shí)，則寫入24 位數(shù)據(jù)。要添加 PEC 功能，24 位數(shù)據(jù)需增加相應(yīng)的8 位校驗(yàn)和。如果接收的 校驗(yàn)和與數(shù)據(jù)不一致，輸出引腳被拉低，指示存在錯(cuò)誤?？刂?器清除錯(cuò)誤，使引腳返回高電平，并重新發(fā)送數(shù)據(jù)。圖1 所示 為如何用SPI 接口應(yīng)用數(shù)據(jù)的示例。表1 列出了能夠采用分組 差錯(cuò)校驗(yàn)的ADI 器件示例。

 

圖1. 采用和不采用分組差錯(cuò)校驗(yàn)的SPI寫入

 

表1. 采用分組差錯(cuò)校驗(yàn)的ADI 器件示例

 

生成分組差錯(cuò)校驗(yàn)和

 

CRC-8 算法采用多項(xiàng)式 C(x) = x8 + x2 + x1 + 1. For x = 2時(shí)，此式 等于二進(jìn)制值100000111。要生成校驗(yàn)和，需將24 位數(shù)據(jù)左移 8 位，產(chǎn)生一個(gè)后8 位為邏輯0 的32 位數(shù)。對(duì)齊CRC 多項(xiàng)式， 使其MSB 與該32 位數(shù)據(jù)最左側(cè)的邏輯1 對(duì)齊。對(duì)該數(shù)據(jù)施加 一個(gè)異或（XOR）函數(shù)，以產(chǎn)生一個(gè)新（更短）的數(shù)字。（數(shù) 字匹配得到邏輯0，不匹配得到邏輯1。）再次對(duì)齊CRC 多項(xiàng) 式，使其MSB 與第一個(gè)結(jié)果最左側(cè)的邏輯1 對(duì)齊，重復(fù)上述 步驟。最后，原始數(shù)據(jù)將減少至小于CRC 多項(xiàng)式的值。此值 即是8 位校驗(yàn)和。圖2 演示了推演校驗(yàn)和的方法。

 

圖2. 生成24 位數(shù)（(0x654321)）的校驗(yàn)和

 

結(jié)論

 

圖2 中的示例采用（十六進(jìn)制）值0x654321 作為24 位數(shù)據(jù)字。 對(duì)該數(shù)據(jù)應(yīng)用CRC-8 多項(xiàng)式可生成校驗(yàn)和0x86。數(shù)據(jù)和校驗(yàn) 和發(fā)送至兼容的ADI 公司產(chǎn)品時(shí)，只有兩段數(shù)據(jù)都正確到達(dá)， 該數(shù)據(jù)才會(huì)被接收。此方法提高了數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃?，并可確 保遭破壞的數(shù)據(jù)幾乎永遠(yuǎn)不會(huì)被接收。

 

 

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