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了解熱插拔:熱插拔電路設(shè)計(jì)過(guò)程示例

發(fā)布時(shí)間:2023-06-21 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】高可用性系統(tǒng)(如服務(wù)器、網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)、獨(dú)立磁盤冗余陣列 (RAID) 存儲(chǔ)和其他形式的通信基礎(chǔ)結(jié)構(gòu))需要設(shè)計(jì)為在其整個(gè)使用壽命期間幾乎為零停機(jī)時(shí)間。如果此類系統(tǒng)的某個(gè)組件出現(xiàn)故障或需要更新,則必須在不中斷系統(tǒng)其余部分的情況下更換該組件。在系統(tǒng)保持正常運(yùn)行的同時(shí),必須卸下電路板或模塊并插入其替換件。此過(guò)程稱為熱插拔,或在某些情況下稱為熱插拔(模塊與系統(tǒng)軟件交互)。


高可用性系統(tǒng)(如服務(wù)器、網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)、獨(dú)立磁盤冗余陣列 (RAID) 存儲(chǔ)和其他形式的通信基礎(chǔ)結(jié)構(gòu))需要設(shè)計(jì)為在其整個(gè)使用壽命期間幾乎為零停機(jī)時(shí)間。如果此類系統(tǒng)的某個(gè)組件出現(xiàn)故障或需要更新,則必須在不中斷系統(tǒng)其余部分的情況下更換該組件。在系統(tǒng)保持正常運(yùn)行的同時(shí),必須卸下電路板或模塊并插入其替換件。此過(guò)程稱為熱插拔,或在某些情況下稱為熱插拔(模塊與系統(tǒng)軟件交互)。為了安全地?zé)岵灏危ǔJ褂镁哂薪诲e(cuò)引腳的連接器來(lái)確保在進(jìn)行其他連接之前建立接地和本地電源。此外,每個(gè)印刷電路板 (PCB) 或插入式模塊都有一個(gè)板載熱插拔控制器,便于從帶電背板上安全拆卸和插入模塊。在運(yùn)行時(shí),控制器還提供連續(xù)保護(hù),防止短路和過(guò)流故障。

雖然必須中斷和啟動(dòng)的電流可能很大,但大電流設(shè)計(jì)的一些微妙之處往往很少被考慮。由于“細(xì)節(jié)決定成敗”,本文將重點(diǎn)介紹熱插拔控制電路組件的功能和意義,并深入探討使用ADI公司ADM1177熱插拔控制器的設(shè)計(jì)過(guò)程中的設(shè)計(jì)考慮因素和最佳元件選擇標(biāo)準(zhǔn)。

熱插拔拓?fù)?br style="padding: 0px; margin: 0px auto;"/>
高可用性系統(tǒng)中常見(jiàn)的兩種系統(tǒng)功率級(jí)別(–48 V和+12 V)使用不同的熱插拔保護(hù)配置。–48V 系統(tǒng)集成了低側(cè)熱插拔控制和調(diào)整 MOSFET;+12 V系統(tǒng)使用高邊控制器和調(diào)整MOSFET。

–48-V方法起源于傳統(tǒng)的電信交換系統(tǒng)技術(shù)。在高級(jí)電信計(jì)算架構(gòu) (ATCA) 系統(tǒng)、光網(wǎng)絡(luò)、基站和刀片服務(wù)器中可以看到示例。作為通常從電池組獲得的電壓,選擇48 V是因?yàn)楣β屎托盘?hào)可以遠(yuǎn)距離傳輸而不會(huì)造成重大損失,但電平不足以在正常條件下冒嚴(yán)重電擊的風(fēng)險(xiǎn)。之所以選擇負(fù)極性,是因?yàn)樵诒┞队谠貢r(shí)不可避免地存在水分的情況下,金屬離子從陽(yáng)極到陰極的遷移在正極端子接地的情況下腐蝕性要小得多。

然而,在數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)中,距離不是重要因素,+12 V電源更合理,因此在刀片服務(wù)器和網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)設(shè)計(jì)中很受歡迎。本文將重點(diǎn)介紹+12 V系統(tǒng)。

熱插拔事件

考慮一個(gè)具有 12V 背板和可拆卸模塊機(jī)架的系統(tǒng)。每個(gè)模塊必須能夠撤回和更換,而不會(huì)影響機(jī)架中任何相鄰模塊的正常運(yùn)行。在沒(méi)有控制器的情況下,每個(gè)模塊可能會(huì)向電源線提供相當(dāng)大的負(fù)載電容,通常為毫法拉量級(jí)。首次插入模塊時(shí),其未充電的電容器需要盡可能多的電流來(lái)為負(fù)載充電。如果不限制此浪涌電流,則可能會(huì)降低端電壓,導(dǎo)致主背板上出現(xiàn)明顯的掉電,重置系統(tǒng)上的許多相鄰模塊,并因高初始電流而損壞模塊的連接器。

這可以通過(guò)熱插拔控制器(圖1)來(lái)解決,該控制器仔細(xì)控制浪涌電流以確保安全的上電間隔。熱插拔控制器還將在上電后持續(xù)監(jiān)控電源電流,以防止正常工作期間出現(xiàn)短路和過(guò)流情況。


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圖1.熱插拔應(yīng)用圖。


熱插拔控制器

ADM1177熱插拔控制器由三個(gè)主要元件組成(圖2):用作主功率控制開(kāi)關(guān)的N溝道MOSFET、測(cè)量電流的檢測(cè)電阻和熱插拔控制器(包括電流檢測(cè)放大器),完成環(huán)路以控制MOSFET的通電流。


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圖2.ADM1177功能框圖


在熱插拔控制器內(nèi)部,電流檢測(cè)放大器監(jiān)視外部檢測(cè)電阻兩端的壓降。這個(gè)小電壓(通常范圍為0 mV至100 mV)必須放大到有用的水平。ADM1177中的放大器增益為10,因此,例如,給定電流量產(chǎn)生的100 mV壓降將被放大至1 V。將該電壓與固定或可變基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較。采用1 V基準(zhǔn)電壓源時(shí),分流器兩端產(chǎn)生大于100 mV (±3%)電壓的電流將導(dǎo)致比較器指示過(guò)流。因此,最大電流跳變點(diǎn)主要由分流電阻、放大器增益和基準(zhǔn)電壓決定;分流電阻值設(shè)置最大電流。TIMER 電路對(duì)給定過(guò)流條件可能存在的時(shí)間長(zhǎng)度設(shè)置限制。

ADM1177具有軟啟動(dòng)功能,其中過(guò)流基準(zhǔn)電壓源線性上升,而不是突然導(dǎo)通,迫使負(fù)載電流以類似的方式跟隨。這是通過(guò)將來(lái)自內(nèi)部電流源的電流注入外部電容(SS引腳)來(lái)實(shí)現(xiàn)的,以將比較器的基準(zhǔn)輸入從0 V線性斜坡上升至1 V。外部SS電容設(shè)定此斜坡的速率。如有必要,SS引腳也可以由電壓直接驅(qū)動(dòng),以設(shè)置最大電流限值。

由比較器和基準(zhǔn)電路組成的ON電路使能該器件。它可以精確地設(shè)置電源必須達(dá)到的電壓,以啟用控制器。設(shè)備啟用后,門開(kāi)始充電。此類電路中使用的N溝道MOSFET的柵極必須位于源極上方。為了在電源電壓(VCC)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),熱插拔控制器具有一個(gè)集成電荷泵,能夠?qū)ATE引腳保持在比VCC高10 V之多。GATE 引腳需要一個(gè)電荷泵浦上拉電流來(lái)使能 MOSFET,并需要下拉電流在必要時(shí)禁用 MOSFET。弱下拉電流用于調(diào)節(jié),較強(qiáng)的下拉電流用于在發(fā)生短路時(shí)快速禁用MOSFET。

熱插拔控制器的最后一個(gè)基本模塊是TIMER,它限制過(guò)流事件期間電流處于調(diào)節(jié)狀態(tài)的時(shí)間。MOSFET 設(shè)計(jì)用于在規(guī)定的最大時(shí)間內(nèi)承受給定量的功率。MOSFET 制造商使用如圖 3 所示的圖表概述了此范圍或安全工作區(qū) (SOA)。


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圖3.場(chǎng)效應(yīng)管 SOA 圖。


SOA圖顯示了漏源組合電壓、漏極電流和MOSFET能夠承受這種耗散的持續(xù)時(shí)間之間的關(guān)系。例如,圖3中的MOSFET可以承受10 V和85 A (850 W)的電壓,持續(xù)1 ms。如果這種情況持續(xù)更長(zhǎng)時(shí)間,MOSFET 將被破壞。定時(shí)器電路可以確保MOSFET受這些最壞情況條件影響的時(shí)間長(zhǎng)度受到外部定時(shí)器電容器的限制。例如,如果定時(shí)器設(shè)置為1 ms,并且電流超過(guò)限值超過(guò)1 ms,則電路將超時(shí)并關(guān)斷MOSFET。

在ADM1177中,為了提供安全裕度,定時(shí)器電流檢測(cè)電壓激活閾值設(shè)置為92 mV。因此,當(dāng)檢測(cè)電壓接近100 mV的調(diào)節(jié)值時(shí),熱插拔控制器將開(kāi)始保守地定時(shí)電流。

設(shè)計(jì)示例

由于ADM1177等控制器的設(shè)計(jì)具有靈活性,因此演示如何在12 V熱插拔設(shè)計(jì)示例中應(yīng)用控制器可能會(huì)有所幫助。此示例假定滿足以下條件:

控制器為 ADM1177

VIN = 12 V (±10%)
最大電壓 = 13.2 V
ITRIP = 30 A
負(fù)載 = 2000 μF
VON = 10 V(用于打開(kāi)控制器的良好電源電平)
IPOWERUP = 1 A(上電期間負(fù)載所需的直流偏置電流)

為了簡(jiǎn)化此討論,計(jì)算排除了組件公差的影響。當(dāng)然,在設(shè)計(jì)最壞情況時(shí),應(yīng)考慮這些公差。

上銷

首先考慮電源電壓超過(guò)10 V時(shí)使能控制器的條件。如果ON引腳的閾值為1.3 V,則VIN至ON引腳的分壓器比需要為0.13:1。為了準(zhǔn)確起見(jiàn),在選擇串的電阻時(shí)應(yīng)考慮引腳漏電流。

由 10 kohm 和 1.5 kohm 電阻組成的電阻分壓器的合適比率為 0.130。

檢測(cè)電阻選擇

檢測(cè)電阻是根據(jù)啟動(dòng)定時(shí)器所需的負(fù)載電流選擇的。


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其中VSENSETIMER= 92 mV。

檢測(cè)電阻在30 A時(shí)消耗的最大功率為:


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因此,檢測(cè)電阻應(yīng)能夠耗散3 W。如果沒(méi)有具有正確額定功率或電阻的單個(gè)電阻器,則可以使用多個(gè)電阻器來(lái)制作檢測(cè)電阻器。

負(fù)載電容充電時(shí)間

在選擇MOSFET之前,必須確定對(duì)負(fù)載電容充電所需的時(shí)間。在上電階段,由于負(fù)載電容需要浪涌電流,控制器通常會(huì)達(dá)到電流限制。如果TIMER引腳設(shè)置的時(shí)間不足以允許負(fù)載電容充電,則MOSFET將被禁用,系統(tǒng)將無(wú)法上電。我們可以使用以下等式來(lái)確定理想值:

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哪里在雷格明= 97 mV,熱插拔控制器的最小調(diào)節(jié)電壓。

該公式假設(shè)負(fù)載電流瞬時(shí)從0 A斜坡上升到30 A的理想條件。實(shí)際上,柵極電荷,Q一般事務(wù)人員,用于限制柵極電壓的壓擺率,從而限制上電電流曲線,從而在不觸發(fā) TIMER 功能的情況下向負(fù)載電容器輸送一定量的電荷。在圖4中,具有較高Q值的MOSFET一般事務(wù)人員與具有較低 Q 值的 MOSFET 相比,導(dǎo)致定時(shí)器在 T1 至 T3 的工作時(shí)間較短一般事務(wù)人員,這會(huì)導(dǎo)致計(jì)時(shí)器在 T0 到 T2 期間處于活動(dòng)狀態(tài)。


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圖4.QGS對(duì)啟動(dòng)配置文件的影響。


這是因?yàn)樵?T0 和 T1 之間傳遞的電荷累積在小于電流限值時(shí)。因此,可以相應(yīng)地減少所需的計(jì)算時(shí)間。這個(gè)數(shù)量很難量化;這取決于控制器柵極電流和柵極電荷和電容的MOSFET規(guī)格。由于在某些情況下它可能占總充電電流的30%,因此需要考慮它,特別是在使用大MOSFET和高電流的設(shè)計(jì)中。

對(duì)于使用柵極電荷較低的MOSFET的設(shè)計(jì),可以假設(shè)柵極斜坡快速。這將導(dǎo)致從0 A到I的快速斜坡旅行,這可能會(huì)導(dǎo)致不必要的瞬變;在這種情況下,應(yīng)使用軟啟動(dòng)。

軟啟動(dòng)

在軟啟動(dòng)時(shí),浪涌電流在SS電容器設(shè)定的時(shí)間段內(nèi)從零線性斜坡上升到滿量程。這將提供一個(gè)浪涌斜坡,避免30 A限值的突然沖擊,并通過(guò)增加基準(zhǔn)電流來(lái)實(shí)現(xiàn)。請(qǐng)注意,電流在SS事件期間處于穩(wěn)壓狀態(tài),因此TIMER從軟啟動(dòng)開(kāi)始的那一刻起就處于活動(dòng)狀態(tài),如圖5所示。


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圖5.定時(shí)器的軟啟動(dòng)效果。

因此,建議軟啟動(dòng)時(shí)間不超過(guò)總定時(shí)器的 10% 至 20%。對(duì)于此示例,我們可以選擇 100 μs 的時(shí)間。SS電容值可按如下方式確定:



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其中 ISS = 10 μA 和 VSS = 1 V。

場(chǎng)效應(yīng)管和定時(shí)器選擇

選擇合適的MOSFET的第一步是選擇VDS和我D標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)于 12V 系統(tǒng),VDS應(yīng)為 30 V 或 40 V,以處理可能破壞 MOSFET 的瞬變。我D的MOSFET應(yīng)遠(yuǎn)大于所需的最大值(參見(jiàn)圖3中的SOA圖)。在大電流應(yīng)用中,最重要的規(guī)格之一是MOSFET的RDSON.該參數(shù)的低值將確保MOSFET在正常工作中完全增強(qiáng)時(shí)損失最小功率,并且在滿載時(shí)產(chǎn)生的熱量最小。

散熱和功耗注意事項(xiàng)

在考慮SOA細(xì)節(jié)和定時(shí)器選擇之前,需要考慮MOSFET在全直流負(fù)載下的功耗,因?yàn)楸仨毐苊膺^(guò)熱。隨著MOSFET溫度的升高,其額定功率會(huì)降低或降低。此外,在高溫下運(yùn)行MOSFET會(huì)縮短其使用壽命。

回想一下,熱插拔控制器以92 mV的最小檢測(cè)電壓?jiǎn)?dòng)定時(shí)器。對(duì)于此計(jì)算,我們需要知道在不觸發(fā)定時(shí)器的情況下可以流動(dòng)的最大可能直流電流。假設(shè)最壞情況 V雷格明97 mV。然后

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假設(shè) MOSFET 的最大值R德森是2毫歐,功率是



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MOSFET在環(huán)境溫度下的熱阻將在數(shù)據(jù)手冊(cè)中指定。封裝尺寸和額外的銅將影響此值。假設(shè)



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由于MOSFET需要耗散2.1 W,因此預(yù)計(jì)最壞情況下的溫升將比環(huán)境溫度高126°C:



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減少此數(shù)量的一種方法是并聯(lián)使用兩個(gè)或多個(gè)MOSFET。這將有效地降低R德森從而影響 MOSFET 中的功耗。使用兩個(gè) MOSFET 時(shí),假設(shè)電流在器件之間平均分配(應(yīng)允許一定的容差),則每個(gè) MOSFET 的最大溫升為 32°C。下面顯示了每個(gè) MOSFET 中的功率:



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隨著這種溫升和假設(shè)的環(huán)境溫度 T一個(gè)= 30°C,每個(gè)MOSFET的最高外殼溫度預(yù)計(jì)為62°C。



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MOSFET SOA 注意事項(xiàng)

下一步是查看SOA圖,以找到合適的MOSFET來(lái)處理最壞情況。在最壞情況下,對(duì)地短路,VDS可以假設(shè)為 V。.MAX13.2 V,因?yàn)檫@將是MOSFET上存在的最大電壓,其源極端子被拉至GND。在調(diào)節(jié)中,最壞的情況將基于熱插拔控制器調(diào)節(jié)點(diǎn)的最大數(shù)據(jù)手冊(cè)規(guī)格。這等于103 mV。然后可以按如下方式計(jì)算電流:



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在將其與MOSFET SOA圖進(jìn)行比較之前,我們需要考慮MOSFET的溫度降額,因?yàn)镾OA圖基于環(huán)境外殼溫度TC= 25°C。首先計(jì)算T處的功耗C= 25°C:



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其中 RthJC 在 MOSFET 數(shù)據(jù)手冊(cè)中指定。

現(xiàn)在對(duì) TC = 62°C 執(zhí)行相同的計(jì)算:



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因此,降額系數(shù) 1.42 的計(jì)算公式如下:



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這需要應(yīng)用于圖3中MOSFET的SOA圖。表示施加最大功率的時(shí)間的對(duì)角線需要向下移動(dòng),以反映調(diào)整后的額定功率。

我們之前使用 1 毫秒線作為示例來(lái)說(shuō)明曲線的工作原理。例如,取該線上的一個(gè)點(diǎn),例如(20 A,40 V);此時(shí)的功率為 800 W。 應(yīng)用降額公式:



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在 40 V 時(shí),降額功率的相應(yīng)電流為 14 A。在 SOA 圖上繪制該點(diǎn)可在新的 62°C 降額 1 ms 線上建立一個(gè)點(diǎn)。新的 10 ms 和 100 μs 線路可以以相同的方式建立。圖 6 中的新行以紅色顯示。


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圖6.SOA 圖,包括 62°C 降額功率限值。


選擇定時(shí)器電容器

SOA 的新降額線可用于重新計(jì)算 TIMER 值。從 繪制水平線我。.MAX≈ 35 A 和一條垂直線在。.MAX= 13.2 V(微弱的藍(lán)線),然后確定它們相對(duì)于紅線的交點(diǎn)。它們指示的時(shí)間介于 1 毫秒到 10 毫秒之間,可能是 ~2 毫秒。在對(duì)數(shù)刻度的圖形的一小部分區(qū)域中,很難獲得完全正確的數(shù)字,因此應(yīng)做出保守的選擇以確保應(yīng)用足夠的公差,同時(shí)考慮這些選擇對(duì)其他標(biāo)準(zhǔn)(如性能和價(jià)格)的影響。

回想一下,負(fù)載充電的估計(jì)時(shí)間約為 850 μs。由于軟啟動(dòng)時(shí)間由線性斜坡建立,因此為負(fù)載電容充電需要更長(zhǎng)的時(shí)間(比階躍變化時(shí)更長(zhǎng))。為了估計(jì)總電荷量,假設(shè)如果使用軟啟動(dòng),則將一半的SS時(shí)間添加到計(jì)算時(shí)間中;因此,將一半的SS時(shí)間(50 μs)增加到850 μs,總時(shí)間約為900 μs。如前所述,如果所選的MOSFET具有較大的柵極電荷(例如≥80 nC),則可以進(jìn)一步降低。如果負(fù)載充電時(shí)間小于最大SOA時(shí)間,則MOSFET是合適的。在這種情況下,滿足標(biāo)準(zhǔn)(0.9 毫秒< 2 毫秒)。

小于 2 ms 的 TIMER 值應(yīng)足以保護(hù) MOSFET,大于 0.9 ms 即可為負(fù)載充電。如果選擇1 ms的保守值,則電容的計(jì)算方法如下:



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其中 ITIMER = 60 μA 和 VTIMER = 1.3 V,



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使用并聯(lián) MOSFET 時(shí),定時(shí)器選擇的計(jì)算不會(huì)改變。至關(guān)重要的是,定時(shí)器和短路保護(hù)在設(shè)計(jì)時(shí)要考慮到單個(gè)MOSFET。原因是 V總金在一組 MOSFET 之間可能有很大差異,因此在穩(wěn)壓期間可能需要單個(gè) MOSFET 來(lái)處理大部分電流。

熱插拔設(shè)計(jì)完成

采用并聯(lián)MOSFET的熱插拔設(shè)計(jì)如圖7所示,具有正確的元件值。ADM1177熱插拔控制器執(zhí)行其他功能。它具有一個(gè)集成的片上ADC,可用于將電源電壓和負(fù)載電流轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)可以通過(guò)I2C 總線,提供完全集成的電流和電壓監(jiān)控功能。


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圖7.完成的參考設(shè)計(jì)。


(作者:Marcus O’Sullivan)


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