【導(dǎo)讀】無線局域網(wǎng)(WLAN)技術(shù)最近勢頭正猛,WLAN技術(shù)也越來越廣泛地應(yīng)用到更多的消費類設(shè)備中,本文主要分享給大家的是專家關(guān)于針對無線測試的幾種并行測試架構(gòu)探討。
近幾年來發(fā)展最為迅猛的一項技術(shù)是無線局域網(wǎng)(WLAN)技術(shù)。盡管這項技術(shù)最初由于筆記本電腦、智能手機和平板電腦等個人設(shè)備的普及而得到快速發(fā)展,但市場調(diào)查表明這一發(fā)展勢頭仍將保持迅猛,因為WLAN技術(shù)越來越廣泛地應(yīng)用到更多的消費類設(shè)備中,這一個生態(tài)系統(tǒng)也被擴展使用到“物聯(lián)網(wǎng)”中。
不僅是WLAN服務(wù)需要得到更廣泛的應(yīng)用,802.11ac等新標(biāo)準(zhǔn)也將為設(shè)備提供所需的帶寬來滿足視頻流等更高級的應(yīng)用。對于設(shè)備制造商而言,這意味著測試方法也需要與時俱進才能應(yīng)對制造需求的快速增長,而且需要在維持相同質(zhì)量水平的同時降低成本。如果采用多待測設(shè)備(DUT)測試架構(gòu),企業(yè)將可大幅縮短實現(xiàn)這些目標(biāo)所需的時間。
I.WLAN設(shè)備的生產(chǎn)測試
過去,WLAN生產(chǎn)測試方法通常是通過連接一個運行良好的設(shè)備(也稱為“黃金樣本”)和功率計來測量數(shù)據(jù)吞吐量和驗證信號電平。近幾年來,企業(yè)越來越多地采用更先進的發(fā)射和接收測試來進行誤差矢量幅度(EVM)、頻譜掩模、發(fā)射功率、分組錯誤率(PER)和接收機靈敏度等測量。這種新測試方法的實現(xiàn)是基于WLAN芯片組供應(yīng)商為客戶提供了所需的軟件來控制嵌入到設(shè)備中的芯片。通過直接控制待測設(shè)備而無需與設(shè)備進行無線通信,測試廠商和最終用戶可在拓寬測試覆蓋范圍的同時更快速開發(fā)應(yīng)用。
A.信令
在傳統(tǒng)的信令測試中,對于WLAN測試,測試系統(tǒng)通常用于模擬無線接入點,而對于蜂窩測試,測試系統(tǒng)則用于模擬基站。信令測試的優(yōu)勢是既可測試標(biāo)準(zhǔn)物理(PHY)層,又可測試媒體訪問控制(MAC)協(xié)議層。通過模擬無線接入點來測試MAC層對設(shè)計和驗證過程非常有用,但在生產(chǎn)測試中這一功能通常是不必要的。此外,信令測試需要在測試系統(tǒng)上實現(xiàn)一個完整的協(xié)議棧,而且速度比非信令測試要慢得多,因為信令測試是用于真正的網(wǎng)絡(luò)運行,而不是用于極其快速的生產(chǎn)測試。相反,非信令測試針對生產(chǎn)應(yīng)用優(yōu)化了速度,使待測設(shè)備可快速完成功率電平、帶寬、通道或頻率以及調(diào)制方案等參數(shù)測試[1],從而幫助設(shè)備制造商拓寬測試覆蓋范圍,而且不會延長測試時間。有利當(dāng)然也有弊——非信令測試的主要缺點是芯片供應(yīng)商的DUT控制需要進行額外的前期開發(fā)。
B.WLAN非信令測試框架
典型的非信令WLAN測試系統(tǒng)通過一個主機進行控制,主機運行的測試執(zhí)行程序可讀取文件的測試矢量和測量設(shè)置、運行所需的測試,并將結(jié)果寫入日志文件或數(shù)據(jù)庫。測試執(zhí)行程序調(diào)用應(yīng)用程序編程接口(API)來控制測試儀器,這些測試儀器通常包括一個或多個矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器或者矢量信號收發(fā)儀。此外,測試執(zhí)行程序還通過調(diào)用WLAN測量算法來對所采集的數(shù)據(jù)進行測量。
非信令測試還要求主機具有芯片組供應(yīng)商提供的芯片組控制庫才能在非信令模式下控制DUT。圖1顯示了這些組件如何構(gòu)成一個典型的WLAN非信令測試框架。
圖1:典型的WLAN非信令測試框架
II.多DUT測試可提高測試吞吐量
盡管近幾年來設(shè)備制造商普遍采用非信令測試來大幅縮短測試時間,但是更復(fù)雜的新無線技術(shù)的出現(xiàn)以及產(chǎn)品周期的不斷縮短進一步增加了減少測試時間和成本的壓力。例如,802.11ac通過增加新的數(shù)據(jù)速率、帶寬以及空間流擴展了802.11n。隨著設(shè)備制造商將802.11ac應(yīng)用到產(chǎn)品中,他們不僅需要測試這個新標(biāo)準(zhǔn),而且為了保持向后兼容性,還需要繼續(xù)測試以前的標(biāo)準(zhǔn)。
此類因素顯著增加了測試時間,繼而增加了測試成本。新的解決方案是芯片組供應(yīng)商、測試廠商以及最終用戶通過并行測試多臺設(shè)備來最大限度提高效率,這一方法也稱為“多DUT”測試。通過利用最新的多DUT測試軟硬件架構(gòu),設(shè)備制造商可以顯著增加他們的生產(chǎn)測試吞吐量而不會增加測試成本。這里來研究和比較各種多DUT測試方案,其中圖2所示的方案是使用一個VSA+VSG或VST通過一個開關(guān)矩陣來測試4個DUT。
圖2:多DUT硬件配置范例
這里基于這一測試配置來討論不同的方法。為了比較這些方法,此處將一個典型的WLAN測試分成以下幾個常見的步驟,并規(guī)定了它們的相對時間單位,如表1所示。
[page]
表1,WLAN測試的常見組成元素
3
這些步驟中耗時最長的是與待測設(shè)備進行通信來實現(xiàn)正確運行模式所需的時間。取決于DUT和測試計劃,DUT控制時間可占總測試時間的45%~90%。因此,如果要開發(fā)一個具有最低總測試成本的測試系統(tǒng),則該系統(tǒng)必須具有低的測試設(shè)備成本,同時使測試設(shè)備的待機時間降到最低。
C.串行測試
在傳統(tǒng)的測試計劃中,設(shè)備通過一個由夾具和射頻儀器支持的測試站進行串行測試。測試順序與圖3中所示的時間框圖相似。此類測試應(yīng)用的主要優(yōu)勢是非常易于實現(xiàn)。然而,這種方法并沒有利用任何類型的軟件或硬件并行機制,從而導(dǎo)致所有DUT啟動期間RF儀器均處于待機狀態(tài)。
圖3:串行測試時間框圖
D.流水線
利用多線程并行軟件架構(gòu)和外部開關(guān)電路,已經(jīng)完成啟動的DUT在執(zhí)行TX和RX測試時,并行軟件線程可控驅(qū)動下一個DUT的啟動過程,從而實現(xiàn)測試的流水線執(zhí)行。這種方法減少了儀器的停機時間,縮短了高達35%的測試時間,如圖4所示。
圖4:流水線測試的時間框圖
E.并行RX測試
另一種減少測試時間的方法是通過向多個DUT發(fā)送相同的波形來同時執(zhí)行多個RX測試。通過將每個DUT分配到相應(yīng)的軟件線程,所有DUT均可同時啟動。使用如圖5所示的技術(shù),多DUT的測試時間相比流水線測試可減少25%,相比串行測試設(shè)備可減少超過50%。
圖5:并行RX測試時間框圖
F.其他多DUT測試方法
流水線和并行RX測試僅僅只是兩個例子來說明如何提高WLAN制造測試的吞吐量而無需添加額外測試設(shè)備。由于測試軟件變得日益復(fù)雜且設(shè)備控制驅(qū)動程序針對測試不斷進行優(yōu)化,新的測試方法將繼續(xù)涌現(xiàn)以幫助設(shè)備制造商不斷提高測試吞吐量,降低測試成本,同時跟上未來無線技術(shù)發(fā)展的步伐。
[page]
III.多DUT制造測試方法
選擇用于并行多DUT WLAN生產(chǎn)測試的測試設(shè)備時,必須確保所選的設(shè)備采用了最新的商業(yè)現(xiàn)成可用(COTS)技術(shù),以在最大程度提高當(dāng)前吞吐量的同時,獲得針對未來需求的可擴展性,包括從多核CPU處理器和用于數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)總線,到用于管理并行測試的多線程軟件架構(gòu)。
A.多核處理器和儀器數(shù)據(jù)總線
通常RF測試系統(tǒng)中最昂貴的部件是用于生成和接收RF信號的電路。許多其它組件,如存儲器、硬盤驅(qū)動器和CPU處理器常見于個人計算機,因此產(chǎn)品生命周期較短且非常廉價。選擇測試系統(tǒng)時,還需要確保該系統(tǒng)易于根據(jù)市場上出現(xiàn)的新COTS進行升級。
PXI是一種基于PC的堅固測試平臺,提供了用于測量和自動化系統(tǒng)的高性能、低成本部署解決方案,包括無線產(chǎn)品生產(chǎn)測試。PXI結(jié)合了PCI Express的電氣總線特性與堅固的機械封裝,并增加了用于制造測試的專用同步總線和主要軟件特性。這種強大的組合為設(shè)備制造商測試提供了目前市場上具有最高吞吐量和最低延遲數(shù)據(jù)總線的解決方案之一,它顯著地降低了測試時間。PXI的另一個優(yōu)勢是嵌入式計算機,通常也稱為PXI嵌入式控制器,其在緊湊的外形結(jié)構(gòu)中提供了最新的高新能CPU處理器。這種模塊化特性可允許用戶在出現(xiàn)新技術(shù)時以相對低的成本升級整個無線測試系統(tǒng)。
圖6:NI PXI Express機箱包含射頻分析儀和發(fā)生器、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、開關(guān)、電源和嵌入式計算機
B.多線程軟件架構(gòu)
正如本文前面例子中所提到的測試方法,在選擇大規(guī)模多DUT無線制造的測試系統(tǒng)時,系統(tǒng)的軟件架構(gòu)必須具有多線程且可進行并行測試。NI LabVIEW是一種具有內(nèi)在并行機制的圖形化編程語言,非常適用于多DUT制造測試。相對于順序語言,LabVIEW圖形化數(shù)據(jù)流程序本身包含有哪些部分可以并行運行的信息。
圖7:作為一種固有的多線程編程語言,NI LabVIEW是大規(guī)模多DUT制造測試的理想之選
C.理想的多DUT WLAN測試系統(tǒng)
PXI平臺的靈活性和可擴展性以及NI LabVIEW的固有并行機制為多DUT WLAN制造測試提供了一個革命性的新工具。NI PXIe-5646R矢量信號收發(fā)儀(VST)具有高達6GHz的頻率覆蓋范圍和高達200MHz的RF帶寬,使其不僅成為測試802.11ac等最新WLAN標(biāo)準(zhǔn)的理想儀器,而且也非常適用于極具挑戰(zhàn)性的未來標(biāo)準(zhǔn)(如LTE-Advanced載波聚合等)的測量。
當(dāng)搭配PXI平臺和基于NI LabVIEW的NI WLAN測量套件軟件的多種開關(guān)功能時,NI矢量信號收發(fā)儀就成為大規(guī)模多DUT制造測試的理想儀器。此外,NI矢量信號收發(fā)儀還可測試許多其它無線標(biāo)準(zhǔn),包括藍牙、NFC、GPS/GNSS、2G/3G蜂窩和LTE等,常常具有業(yè)界領(lǐng)先的性能和測試時間[2]。
圖8:一個完整的WLAN測試系統(tǒng)由一個NI矢量信號收發(fā)儀與NI WLAN測量套件軟件組成