測量信號源相位噪聲1

 

解決方案

 

總部位于瑞士的Anapico生產(chǎn)了APPH系列自動信號源分析儀，其將幅度調(diào)制和相位調(diào)制測量分開，可以獨立測量非常低的噪聲水平（低于-180 dBc / Hz），并具有測量有源和無源附加噪聲的能力組件。APPH分析儀可提供高達30GHz的測量能力，并具有完全集成的互相關(guān)系統(tǒng)，可響應  常見的相位，幅度和基帶噪聲測量問題，可提供高  和重現(xiàn)性，快速測量速度，高動態(tài)范圍以及低系統(tǒng)本底噪聲，同時仍可為實驗室和生產(chǎn)環(huán)境提供可承受的價格。

 

系統(tǒng)架構(gòu)

 

APPH系列的  引擎將低噪聲模擬接收器通道與先進的數(shù)字信號處理技術(shù)結(jié)合在一起，可提供快速且可重復的噪聲測量。專有的基于FPGA的FFT交叉分析儀實時處理125MSa / s，可在幾秒鐘內(nèi)完成數(shù)千個相關(guān)性和-170dBc / Hz以下的測量。由LAN或USB控制的APPH系列可以使用PC，筆記本電腦或平板電腦作為控制器，因此無需集成顯示器，從而可以  地降低產(chǎn)品成本，同時提高可靠性。

 

校準

 

將系統(tǒng)封裝在緊湊的無風扇機箱中，可以進一步消除雜散信號以及接地和電源線環(huán)路。另一個非常重要的考慮因素是  校準。出廠前，每臺儀器均根據(jù)可溯源的噪聲標準進行了校準，以確保高  ，一致和可重復的結(jié)果?？蛇x地，儀器可以提供校準標準品，以使用戶可以隨時進行現(xiàn)場性能驗證。

 

測量能力

 

Anapico的APPH儀器支持的測量包括：使用內(nèi)部或外部參考的相加或  相位噪聲測量，幅度噪聲測量以及其他用于評估RF信號源的自動測量。對于晶體振蕩器，PLL合成器，時鐘，鎖相VCO，DRO等源，可以輕松進行SSB相位噪聲，幅度噪聲，AM噪聲測量，加性或殘留噪聲表征以及高達30GHz的基帶噪聲測量。 。

 

圖2所示的相位噪聲數(shù)據(jù)是從低噪聲100 MHz OCXO參考中收集的數(shù)據(jù)。所顯示的三個跡線分別是在  次關(guān)聯(lián)之后（綠色，在12秒的測量時間之后），10個關(guān)聯(lián)（藍色，在120 s之后）和100個關(guān)聯(lián)（紅色，在20分鐘之后）。十次相關(guān)或兩分鐘后，DUT的本底噪聲達到-180 dBc / Hz。對于這種超低噪聲測量，使用外部參考源可以獲得更快的結(jié)果。使用內(nèi)部基準電壓源運行的系統(tǒng)的靈敏度取決于DUT的載波頻率和頻率偏移范圍。

 

 

測量信號源相位噪聲2

 

圖3顯示了使用內(nèi)部信號源進行測量時APPH的典型靈敏度，假設(shè)測量時間約為24秒，偏移量為1Hz至10MHz。但是，APPH信號源分析儀還可以測量不同驅(qū)動條件下放大器的加性相位噪聲，以及預分頻器或混頻器之類的頻率轉(zhuǎn)換設(shè)備的相位噪聲。此外，還支持幅度噪聲測量。

 

 

測量信號源相位噪聲3

 

圖4顯示了從Anapico的一個信號發(fā)生器獲得的4 GHz的幅度噪聲，并顯示了帶有用戶定義的標記和偽列表的跡線。APPH還可以直接訪問FFT分析儀，從而可以對電源電壓和控制電壓進行噪聲分析。具有擴展偏移范圍的APPH6040以及APPH20G提供超過40 MHz的帶寬和瞬態(tài)測量功能。

 

圖3：帶有內(nèi)部參考源（24秒后）的APPH的靈敏度。

 

 

測量信號源相位噪聲4

 

結(jié)論

 

APPH系列相位噪聲測試儀提供了完整的測量功能，可評估各種射頻信號源。它們提供了全面的測量功能，例如相位和幅度噪聲測量，殘余噪聲表征，可直接訪問FFT分析儀進行基帶信號和LF噪聲分析。使用經(jīng)過驗證的互相關(guān)測量程序和自校準例程，即使在變化的環(huán)境條件下也可以獲得可重復且準確的測量結(jié)果。全自動的頻率采集和自校準功能大大簡化了儀器的使用和適用范圍，從而實現(xiàn)了快速測量和易于操作。