【導(dǎo)讀】在碳中和的時代背景下，從毫瓦級到兆瓦級的開關(guān)電源都在往高頻、高效、高密度的方向發(fā)展。ZDS5054A電源分析型示波器配備多種電源智能分析功能，幫助工程師快速設(shè)計高效可靠的電源。
背景介紹
在節(jié)能減排的時代背景下，從毫瓦級到兆瓦級的開關(guān)電源，都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展，對于開關(guān)器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來越高。
ZDS5054A電源分析功能為開關(guān)電源量身打造，涵蓋了輸入輸出特性測試，MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析，調(diào)制波形測試等功能，全方位評測開關(guān)電源可靠性。
電源分析功能應(yīng)用場景
以典型的AC-DC電源為例，ZDS5054A電源分析型示波器的應(yīng)用場景如上圖所示。下文我們簡單介紹幾個特點功能，實際測試過程可查看本期視頻。
開關(guān)損耗測試：精準(zhǔn)量化分析MOSFET損耗
功率MOSFET開關(guān)損耗測試是PFC電源調(diào)試中的難點，由于SPWM每個周期的開關(guān)損耗都不相同，傳統(tǒng)通過手光標(biāo)和數(shù)學(xué)運算手動測試的方式已經(jīng)不適用。
ZDS5054A示波器標(biāo)配512M存儲深度，可捕獲多個完整調(diào)制周期SPWM波形，自動統(tǒng)計各開關(guān)周期的開通/關(guān)斷/導(dǎo)通損耗，計算最大值、最小值、平均值，準(zhǔn)確量化開關(guān)器件的功率損耗。
SOA分析：有效保障MOSFET安全工作
功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出安全工作區(qū)，會導(dǎo)致器件損壞、爆炸的風(fēng)險陡增，常規(guī)調(diào)試手段難以對器件的各種工況進(jìn)行全面評估。SOA安全工作區(qū)分析功能，可統(tǒng)計MOSFET在所有工況下瞬時參數(shù)超出安全工作區(qū)的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。
環(huán)路分析：快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性
穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關(guān)電源來說是非常重要的，如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動態(tài)性能就會很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負(fù)反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應(yīng)曲線，通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。
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