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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測試電壓、測試時(shí)間、測試設(shè)備的泄漏以及外界干擾等。本文重點(diǎn)談?wù)勆鲜鑫宕笠蛩亍?/p>
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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VIO的開環(huán)測試電路
輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測試設(shè)備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運(yùn)放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環(huán)測試電路
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TI推出新型SoC：簡化設(shè)計(jì)、降低成本
TI推出新型智能電表SoC，可使開發(fā)人員針對(duì)智能電子電表應(yīng)用簡化設(shè)計(jì)、提高彈性與降低系統(tǒng)成本。它結(jié)合3個(gè)獨(dú)立引擎的完全集成式解決方案，計(jì)量引擎可達(dá)到0.5%的電表等級(jí)準(zhǔn)確度，并支持單相或三相電表。
2012-10-31
TI SoC 智能電表
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聚焦新能源汽車與工業(yè)應(yīng)用 第十二屆高能效設(shè)計(jì)研討會(huì)圓滿結(jié)束
在汽車、工業(yè)等領(lǐng)域，低功耗的設(shè)計(jì)已經(jīng)不能滿足市場的需求，高效的設(shè)計(jì)才能讓產(chǎn)品脫穎而出！但是過壓、過熱、系統(tǒng)老化、操作行為的問題層出不窮，怎樣考慮才能獲得高效的設(shè)計(jì)呢？在第十二屆高能效設(shè)計(jì)研討會(huì)上，TI專家?guī)淼腂MS解決方案，豐寶電子專家?guī)鞱XP最新的MCU解決方案在能源高效利用中的實(shí)...
2012-10-31
高能效設(shè)計(jì) 研討會(huì) 新能源
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COG取代LCD，可減少醫(yī)療系統(tǒng)設(shè)計(jì)成本
液晶顯示器(LCD)在診斷型醫(yī)療中的應(yīng)用日益頻繁，盡管LCD監(jiān)視器與陰極射線管監(jiān)視器相比具有很多優(yōu)勢，但是(COG)技術(shù)是LCD設(shè)計(jì)的替代方法，在該技術(shù)中LCD驅(qū)動(dòng)器直接安裝在顯示玻璃上，可為醫(yī)療應(yīng)用提供成本和設(shè)計(jì)優(yōu)勢。
2012-10-31
COG LCD 醫(yī)療
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國內(nèi)鍺基MOS器件的研究進(jìn)展
對(duì)于高性能的MOS器件而言，良好的界面對(duì)于提升MOS器件的遷移率非常重要，由于high-k/Ge的界面穩(wěn)定性較差，在界面處存在的大量的缺陷形成載流子的散射中心，阻礙了高遷移率的獲得，進(jìn)而嚴(yán)重影響器件的最終性能。本文講述了中國科學(xué)院微電子研究所在這一方面研究上的顯著進(jìn)展。
2012-10-31
鍺基 MOS
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可作為太赫茲倍頻器核心元件的肖特基二極管器件和石英電路
中國科學(xué)院微電子研究所微波器件與集成電路研究室太赫茲器件研究組研制出截止頻率達(dá)到3.37THz的太赫茲肖特基二極管和應(yīng)用于太赫茲頻段的石英電路，可作為太赫茲倍頻器核心元件，經(jīng)中電集團(tuán)41所驗(yàn)證，性能與國際同類產(chǎn)品相當(dāng)。
2012-10-31
太赫茲 肖特基二極管 石英電路
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麥瑞推出工作電流消耗僅為2.5毫安的低噪聲放大器
麥瑞半導(dǎo)體公司今天宣布推出帶有低功耗休眠模式的100MHz至1000MHz低噪聲放大器（LNA）MICRF300，面向100MHz至1000MHz頻率范圍的無鑰匙進(jìn)入（RKE）、車庫門遙控開關(guān)（GDO）和自動(dòng)抄表（AMR）等低功耗、低數(shù)據(jù)傳輸率應(yīng)用。
2012-10-31
麥瑞 低噪聲 放大器
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第80屆中國電子展今日上海開幕
中國最大電子展迎來80屆盛典，今日在上海新國際博覽中心隆重開幕。一直被譽(yù)為中國電子信息產(chǎn)業(yè)晴雨表的中國電子展，在當(dāng)前全球經(jīng)濟(jì)不景氣的情況下，繼續(xù)成為眾多電子企業(yè)重視和依賴的交流平臺(tái)，使得展商同比去年增長4.5%。新能源、數(shù)碼消費(fèi)電子、綠色環(huán)保概念等成為了本屆展會(huì)的幾大亮點(diǎn)。
2012-10-30
中國電子展
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